适配光谱 / 显微测试：帕尔贴冷热台选型与应用

还在为液氮成本高昂、机械振动干扰测试、温度波动不稳而烦恼吗？ 华测仪器 Huace TEC-150 帕尔贴冷热台 与 Huace TEC-PE120 帕尔贴冷热台，为原位变温光学测试带来无液氮、无振动、高稳定的解决方案。

两款均采用帕尔贴热电制冷技术，依靠半导体热电效应实现双向控温，无需液氮、无机械运动部件、无噪音污染，洁净室、光学测量等场景均可使用。

1.宽温区准确控温：温度覆盖 -40℃ 至 150℃ 宽温区，温度稳定性可达 ±0.1℃，毫秒级响应，确保试验数据稳定可靠。

2.灵活升降温速率：升降温速率 0~30℃/min 连续可调，支持多段程序控温，可复现复杂温变曲线，满足材料相变、热分析等多样化试验需求。

3.完备光学兼容性：开放式光路、无遮挡设计，兼容反射 / 透射模式，适配拉曼光谱、荧光光谱、红外光谱等多种光学测试场景，可与显微镜、光谱仪等设备联用，实现原位实时观测。

小巧通用（TEC-150）：体积紧凑，适配薄片、薄膜、小尺寸样品，是常规光学变温测试的理想选择。

大样品适配（TEC-PE120）：是为大样品与探针测试设计，样品高度 3.5mm，载样台尺寸 40mm×40mm，兼容块状、厚膜、粉末等多种样品；腔体支持真空、气氛、大气三种模式，满足不同气氛环境下的测试需求。

告别液氮消耗与振动干扰，获得高准度、省时省力、高兼容性的变温测试新体验 ——华测仪器帕尔贴冷热台，让每一次原位实验都更准确、更稳定、更省心。