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2026-08-18
华测仪器HCEV-30kV非接触式高压静电电压表设备依托自研场消技术开展测量，采用非接触无损检测方式，探头无需接触试样，不会扰动样品原有电荷分布，避免划伤、污染样品。区别于传统静电测量设备，测试时探头小幅距离波动不会造成数据漂移，无需频繁校准测距，同时适配静态试样检测与产线运动卷材在线监测。测量量程0~±30kV，支持直流电压、峰值交流电压测量，覆盖多种高压静电测试工况；整机动态响应性能优异，阶跃响应迅速，可捕捉瞬时产生的静电电位突变。搭载4½位LED数字显示屏...2026-08-17
华测仪器HCEV-20kV非接触式高压静电电压表，依托自研场消测量技术实现无损非接触电压检测，测量过程不扰动试样原有电场、不损伤被测样品。仪器测量量程覆盖0至±20kV直流电或峰值交流电，适配多种高电位绝缘材料测试场景。区别于传统设备的测距局限，本机无需固定测量间距，探头小幅距离波动条件下依旧保持读数稳定，优化现场测试灵活性与长期运行可靠性。整机测量精度优于满量程的±0.1%（以电压监测器为基准），能够准确捕捉微小静电动态波动；搭载4½位LED显示...2026-08-14
随着半导体器件、微型传感器、微电子元器件可靠性测试需求持续增长，批量样品同步开展漏电、电流特性测试的场景越来越普遍。传统单通道测试设备需要人工反复接线、轮换试样，测试效率低下，难以满足批量微弱电流并行采集需求。针对行业痛点，华测仪器推出HC-PAX多通道电流矩阵模块，为多路微弱电流搭建自动化测试平台。HC-PAX采用模块化高密度硬件架构，以8通道作为标准基础单元，单机箱可拓展128通道；支持多机箱级联拓展，可达1024通道，可灵活适配实验室小批量试样测试与产线大规模测试等不同...2026-08-13
高温四探针测试仪是针对导电材料高温电学性能检测的精密实验设备，结合高温温控系统与四探针电学检测技术，可模拟高低温工况下材料的导电特性变化。它能够精准测定各类固体材料的电阻率、方块电阻等核心电学参数，有效解决常温测试无法模拟高温服役环境的检测短板，广泛应用于新能源材料、半导体、陶瓷、金属复合材料等领域，是材料电学性能研发与质量检定的核心设备。一、工作原理1、四探针电学检测原理。温四探针测试仪采用等间距四探针排布结构，测试时外侧两根探针向材料表面输入恒定微弱电流，内侧两根探针精准...2026-08-13
高分子绝缘薄膜生产过程中形成的杂质、局部薄化等微观问题，是影响高压工况下局部电场畸变、介质击穿与终端产品失效的关键诱因。华测仪器HCRD-300L系列电弱点试验仪面向电容薄膜、锂电池隔膜等卷材质检需求，实现整卷卷材不间断连续检测，试样无需提前分切制样，规避裁切工序引入二次损伤，检测数据可真实反映卷材本体品质。设备测试宽度支持按需定制，覆盖50~2200mm幅宽；薄膜走带速度3~10m/min连续可调，兼顾实验室抽检与产线批量检测需求。系统搭载交直流双高压输出单元，DC50V~...2026-08-13
在材料科学、半导体、化学等研究领域，温度控制与原位观测经常需要同步实现。华测仪器推出多款冷热台产品，覆盖-190°C至1500°C的宽温区，支持电学、光学、力学等多种原位测试。以下对各型号的技术特点和应用场景进行分述。一、常规探针冷热台该设备用于变温条件下的电学性能测试，可与源表、万用表等电学仪表集成。采用液氮致冷和电阻加热方式，提供-180°C~600°C或RT~1000°C两种温区选型。温度稳定性±0.1°C，温度分辨率0.1°C，升降温速率0~30°C/m...2026-08-12
华测仪器HCMP多通道介电电阻测试模块，标配10路单独测试通道，同时支持通道数量定制扩容，可同步开展多组试样平行对照试验，适合长期电热老化试验配套在线监测，完成多试样同步比对测试。模块搭载高速光耦继电器，通道切换时间低至1ms；通道之间绝缘电阻可达100TΩ，寄生静电电容仅0.2pF，降低通道间信号串扰，保障长周期不间断测试工况下数据稳定、重复性优异。设备支持1000V测试电压，内置一键开短路自动补偿功能，减少线缆、回路杂散参数引入的测量误差，优化介电常数、介质损耗、绝缘电阻...
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