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日期:2026-05-20浏览:12次
面对高温工况下材料相变、晶粒生长、结构形变等动态变化,想要高准度捕捉瞬时微观行为,华测仪器 Huace 1400-XY、Huace 1500-XY 高温原位光学加热台提供原位观测方案,凭借准确控温、灵活位移、气氛适配与光路设计,实现高温下材料全流程动态表征。
Huace 1400-XY 反射式高温原位加热台
温区覆盖室温至 1400℃,控温精度达 ±0.1℃,温控稳定;升温速率 1~150℃/min 可调,支持多段程序升降温,可模拟多种高温工况。
采用陶瓷加热体搭配高温阻丝,热场均匀稳定;搭载 XY 双向可调载样台,高温状态下可实时调整观测位置,准确锁定观测区域。
支持真空、惰性气氛使用,可防止样品高温氧化变质,普遍应用于陶瓷、半导体、合金材料等领域,可观测高温烧结、热形变、界面反应及表面结构演变。
Huace 1500-XY 透射式高温原位加热台
机身小巧,用于高温透射显微观测,搭建原位试验系统。 温度可达 1500℃,搭载自研自散热结构,高温持续运行无需外置水冷,安装使用更便捷。
配备透射光路,可穿透透明、半透明样品,清晰观测内部晶界、相界、熔融状态、晶格变化等微观特征。
内置 XY 位移结构,高温下可切换观测点位,适配光学玻璃、高温晶体、熔盐等试样,助力高温相变研究、内部结构分析与熔融特性测试。
两款设备兼顾反射与透射观测需求,宽温域、工况适配性强,准确记录高温环境下材料每一处细微变化,为新材料研发、高温工艺优化与机理研究提供可靠测试方案。
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