绝缘材料电气性能测试：电阻率、击穿、耐电弧、漏电起痕对应国标与华测仪器选型

在绝缘材料研发、来料检验和产品认证中，电阻、击穿、耐电弧、漏电起痕是四项常规电气性能测试。华测仪器对应的设备覆盖了从基础绝缘评估到破坏性失效验证的完整。本文将依次介绍这四项测试及其对应设备。

电阻率测试

对应标准：GB/T 31838.2-2019《固体绝缘材料 介电和电阻特性 第2部分：电阻特性（DC方法）体积电阻和体积电阻率》

电阻测试通常是这四项中不破坏试样的项目。原理是在试样两端施加直流电压，测量流过材料的稳态泄漏电流，通过电压与电流的比值计算绝缘电阻，进而得到体积电阻率和表面电阻率。体积电阻率反映材料内部对电流的阻碍能力，表面电阻率则表征材料表面抵抗电流流动的能力。

Huace-300 表面体积电阻率测试仪（高阻计）。该仪器采用精度高、低温漂系数低的电阻，配合肖特基高压温压二极管，既可测量高电阻，又可测微电流。电阻测量范围覆盖 0.01×10⁴ Ω ～ 1×10¹⁸ Ω，电流测量范围为 2×10⁻⁴ A ～ 1×10⁻¹⁶ A，测试电压支持 10V、50V、100V、250V、500V、1000V 多档可调。数字液晶直接显示电阻值和电流。
 

 设备支持自动计算绝缘电阻、体积电阻率、表面电阻率，采用屏蔽环技术屏蔽不属于测试材料的泄露电流。配合 HC200SV 表面/体积电阻测量用电极，无需改变形状即可直接测量片状、薄膜、板状产品以及防静电板材。

电压击穿测试

对应标准：GB/T 1408.1-2016《绝缘材料 电气强度试验方法 第1部分：工频下试验》

击穿测试是这四项中破坏性直接的。通过连续均匀升压或逐级升压，对试样施加工频电压，直到材料绝缘性能严重损失、回路电流促使断路器动作，此时的电压即为击穿电压。击穿电压与试样平均厚度的商即为电气强度，以 kV/mm 表示。

华测仪器的电压击穿试验仪采用触摸屏计算机控制，支持击穿试验、耐压试验和阶梯试验三种方式。HCDJC系列主要适用于固体绝缘材料介质在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压时间的测试，高压输出根据型号覆盖20kV、50kV、100kV、150kV、200kV升压速度在 100V/S 至 5kV/S 之间可设定。

 耐电弧测试

对应标准：GB/T 1411-2002《干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验》

耐电弧测试模拟的是高压、小电流条件下间歇性电弧放电对材料表面的侵蚀。电弧放电产生局部高温和电化学腐蚀，终可能在材料表面形成导电通道，导致绝缘失效。标准规定的试验程序通过逐步增加电弧的严酷程度，观察材料从表面腐蚀到终失效的全过程。

华测仪器 HCDH-4 耐电弧测试仪专为电气绝缘材料设计，适用于塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质的耐电弧性能测试。设备采用 TVS 瞬间防护技术，内置光耦隔离架构，配备过流、过压实时预警功能，电压输出稳定。

 漏电起痕测试

对应标准：GB/T 4207-2022《固体绝缘材料 耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》

漏电起痕测试模拟的是材料表面在电场和潮湿、污染介质联合作用下的行为。在试样表面滴加电解液，电极间施加电压，观察是否形成电痕化导电通道。输出指标是相比电痕化指数（CTI）和 耐电痕化指数（PTI）。

华测仪器在该项目上有两个设备：HCLD-2 低压漏电起痕试验仪面向 GB/T 4207 标准，用于测定 CTI 和 PTI，采用 PLC+12寸触摸屏控制系统，电压压降≤5%；HCLD-3 高压漏电起痕试验仪则对标 GB/T 6553 和 IEC 60587，试验电压 0-6000V 连续可调，支持 5 个试样同时并行测试，面向变压器、高压开关柜等严酷工况下的材料评估。

 

 

华测仪器在绝缘材料电气性能测试领域已深耕十多年，可为材料研发、生产质控和第三方检测提供电学测试方案。如需了解具体型号的详细参数或选型建议和定制化方案，欢迎联系华测仪器技术团队。

 

北京华测试验仪器有限公司(简称华测仪器)是高新技术企业，专注于材料电性能检测设备的研发、生产与销售。公司产品应用于高校、科研院所、质检机构及各类制造企业，致力于为客户提供解决方案。华测仪器还可承接实验室整体承建项目，打造材料电学与电气绝缘性能实验室。