准确评估绝缘劣化风险，华测仪器离子迁移测试系统丰富测试装备矩阵

随着电子器件持续向小型化、高密度集成方向发展，高温高湿叠加电场作用引发的离子迁移、绝缘电阻衰减等问题愈发突出，对产品长期服役稳定性构成挑战。针对行业测试痛点，华测仪器推出绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统，可开展温湿度偏压、电化学迁移、表面绝缘电阻等长期加速老化试验，完整复现复杂工况下绝缘性能演变全过程。

绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统可长时间（1~1000小时可按需定制）持续监测样品绝缘电阻动态变化，准确捕捉离子迁移诱发的阻值跌落与微短路现象，为失效机理研究、材料配方筛选与生产工艺优化提供可靠数据支撑。设备应用场景覆盖面广阔，普遍应用于线路板、电子元器件、半导体封装器件、电子材料、绝缘材料等领域，同时面向高校、研究院、第三方检测实验室开展新材料可靠性验证。

依托测控算法与硬件防护设计，整套系统运行稳定、通道拓展灵活，适配长时间不间断加速老化试验。此次系统落地应用，进一步丰富华测仪器电子可靠性测试装备矩阵。未来，华测仪器将持续深耕电介质可靠性测试赛道，不断优化测试平台性能，为国内电子产业品质升级、国产化新材料研发提供测试解决方案。