电弱点测试仪在薄膜电弱点设备校验与方法比对试验中的应用

电弱点测试仪在薄膜电弱点设备校验与方法比对试验中的应用

薄膜、隔膜检测实验室，需要开展不同测试设备、不同测试方法之间比对验证，确认电弱点检测结果一致性。传统小样试样面积有限，统计样本少，比对结果离散大。HCRD-300L 可生成完整已知弱点分布的试验卷，用于设备校验、方法比对，验证检测条件、电压、走速对电弱点计数结果的影响。

一、小样比对试验的局限性

小样面积小，电弱点总数量少，统计样本不足，比对结果波动大。

裁切制样带来伪破损，造成两组设备比对数据不一致，无法判断是设备差异还是制样干扰。

很难实现同一薄膜样本，在不同测试速度、不同测试电压条件下的对比。

二、整卷试验卷开展比对校验

选取一卷含有自然电弱点的薄膜 / 隔膜，在 HCRD-300L 上完整整卷扫描，得到整套弱点位置、数量基准数据。之后可以调整走卷速度、测试交直流电压、击穿保护电流参数，做多组条件对比，研究工艺参数对弱点计数的影响；也可以把该卷薄膜分切后给到其它检测设备，开展实验室间方法比对。设备具备校准功能，可定期完成整机电压、电流计量校准。多重互锁保护保障长时间比对试验稳定，原始数据全部导出，方便做统计分析，满足国标、IEC 标准的方法验证需求。

三、实验室应用价值

第三方材料检测机构、企业实验室，用于电弱点检测方法确认、设备校验、实验室间比对，建立可靠的薄膜电弱点检测试验条件。