HCCT-40H｜多通道电容器温度特性评价系统，全阵元批量检测

华测仪器 HCCT-40H 多通道电容器温度特性评价系统，面向多种电容器温度特性测试场景而设计，可适配多种规格型号、不同通道数量的被测样品，支持定制专属电容测试线缆，匹配不同样品封装、排布与安装工况，满足多样化样品接入需求。

设备标配 64/80/128 通道，硬件架构支持灵活扩展，可拓展至 256 通道，可实现多路样品同步并行测试，摆脱传统单通道依次测试的效率问题，大幅优化研发验证、可靠性老化试验的整体试验效率。系统支持被测器件全部阵元的批量自动化检测，单款被测样品扫描时长不超过 1 分钟；采用设备端逐通道自动巡检机制，无需人工手动切换阵元通道，减少人为操作介入，减少人工切换带来的操作误差，优化测试一致性。

电容测量覆盖 1pF~1μF，测试频率固定 1kHz，测量参数贴合电容器温度特性评价标准要求。设备兼顾实验室研发验证、样品测试以及产线批量筛查等多元化测试场景，既可用于新材料、新型电容器件的前期研发性能评估，也可用于大批量样品可靠性考核、温度环境下电容参数变化规律监测，为电容器产品迭代、质量管控提供温度可靠的数据支撑。