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华测高温低电阻测试仪技术参数及采购必知

日期:2022-07-26浏览:204次

华测高温低电阻测试仪技术参数及采购必知



一、华测高温低电阻测试仪功能特点:

█ 多功能真空加热炉,一体炉膛设计、可实现、高温、真 空、气氛环境下进行测试

█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度;

█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的电阻、电阻率;

█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T等测量功能;

█ 进口温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更zhunque

█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;

█ 10寸进口触摸屏设计,一体化设计机械结构,更加稳定;

█ 程控电子升压技术,纹波更低、TVS防护系统,仪器安全性;

█ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针;

█ huace pro 强大的控制分析软件。

二、华测高温低电阻测试仪技术参数:

1、温度范围:室温-1000℃, (反射炉加温 )配水冷机;

2、控温精度:(温控国内) ±0 5℃ ;

3、测量精度: ± 0.25℃;

4、升温斜率:20℃/min (可设定);

5、降温斜率:  1-200℃/min ( 自调整);

6、测量精度:0.5%;

7、样品规格:直径: 20mm 以内;厚度: 5mm以内;

8、电材料:铂金;

9、测量方式:2 线- 4线测量方式;

10、测量范围: 0.1uΩ- 100MΩ

11、供 电:220V±10%,50Hz;

12、工作环境:0℃ - 55℃;

13、存储条件:- 40℃-70℃;

14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;

15、重 量: kg 25

 

产品型号

温度范围

设备功能

HGTZ-901

室温-800C°

单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境

HGTZ-902

室温-1200C°

单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境

HGTZ-903

室温-1450C°

单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境












 

 

 

 

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