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2026-10-19
设备简介✅核心原理采用高压介质击穿检测原理，上下电极之间施加设定直流高压，卷材匀速走膜。薄膜内部存在针孔、杂质、薄化等缺陷（电弱点）时，缺陷位置绝缘快速击穿，仪器瞬间捕捉击穿信号，自动计数、记录弱点位置，击穿后快速恢复设定测试电压，持续不间断检测整卷样品。✅核心组成模块放卷&收卷单元：气涨轴装夹卷材，张力可调，保证走膜平稳高压电极组件：铜辊下电极+导电橡胶上电极，大面积接触薄膜高压发生与测控单元：可控直流高压输出，精度±1%，击穿快速响应数据采集与控制系统：实时...2026-10-19
🔍测试原理设备依据漏电起痕试验标准，在绝缘材料试样表面放置一对铂电极，电极间施加规定交流高压。按固定周期向试样表面滴入氯化铵标准污染溶液；在电压与电解液协同作用下，样品表面逐步碳化形成导电通路，当发生漏电起痕或击穿时，设备自动判定终点，以此获取材料相比漏电起痕指数CTI。⚙️设备构成调压高压主机：提供试验所需交流电压，内置短路快速保护标准铂电极组：满足国标规定的电极形状与压力要求自动滴液装置：精准控制滴液间隔、液滴大小，稳定供给污染液试样夹持台：可快速装夹板材试样，微调电极...2026-10-16
面向隔膜质控的50点电极法耐压击穿测试系统技术解析在锂电、电容器产业快速发展的背景下，隔膜作为关键绝缘基材，其耐压击穿性能将决定电芯运行稳定性与产品可靠性。传统单点击穿测试效率偏低，难以满足产线大批量样品快速抽检需求。华测仪器针对性推出50点电极法测试系统，是为锂离子隔膜、电容器隔膜耐压击穿检测打造，实现多点同步自动击穿测试，为隔膜质量筛查提供解决方案。该系统关键亮点为50通道同步检测能力，配备50个电极并采用矩阵式排布结构，可一次性完成50个点位击穿试验，大幅优化测试通量，...2026-10-16
热释电系数测试仪是测量热释电材料热释电性能的专用精密仪器，广泛用于铁电薄膜、陶瓷、单晶等功能材料研发与质检。依靠温度变化激发样品产生热释电电荷，通过高灵敏度采集单元完成微弱信号检测，温控腔体与高阻采集模块是决定测试精度的两大核心部件。1、结构组成。热释电系数测试仪主要由温控腔体、样品夹持组件、温度传感单元、高阻电荷采集模块、信号放大电路、数据采集与控制系统组成。测试时将样品固定于样品台，温控腔体按设定速率升温或降温，材料随温度变化释放热释电电荷；高阻采集模块捕获微弱电荷信号，...2026-10-15
粉体/液体/固体带电测试：Huace-111A电荷量表技术解析在粉体输送、化工材料、高分子制品研发中，材料摩擦起电、静电积聚是影响产品使用与性能的关键因素，电荷及电荷密度是静电评估的关键指标。华测仪器Huace-111A电荷量表，面向多形态材料静电表征需求，为固体、液体、粉体带电特性测试提供稳定可靠的测量方案。该仪器适配多种形态试样，可完成粉体、液体、固体材料的带电电荷量检测，支持手动量程与快速自动量程两种模式，适配不同量级电荷测试场景。仪器采样速度可达500读数/秒，响应迅...2026-10-14
面向半导体与传感器测试：HC-PAX多通道电流矩阵模块技术解析随着半导体器件、微型传感器研发与量产并行测试需求提升，传统单通道微弱电流测试设备通道数量有限、扩容困难、测试效率低，难以满足批量样品同步表征需求。华测仪器HC-PAX多通道电流矩阵模块，面向多路微弱直流测试场景，提供一套灵活、高准度、可规模化扩展的高密度电流控制方案。HC-PAX采用模块化架构，以8通道作为基础单元，各通道支持单独控制，可按需配置测试时序。通道卡支持热插拔，无需停机即可增减通道；单机箱可达128通道...2026-10-13
HCRD-300L电弱点试验仪：整卷免分切薄膜绝缘弱点检测技术绝缘薄膜作为电容、锂电行业关键介质材料，薄膜中的微孔、薄点、杂质等电弱点，会降低绝缘性能，造成终端产品失效。传统检测方式需要将母卷分切为小试样，裁切易带来薄膜损伤、应力改变，影响测试真实性，且难以匹配成品实际使用幅宽，材料品质管控存在短板。华测仪器HCRD-300L系列电弱点试验仪，针对宽幅绝缘薄膜检测痛点，实现整卷连续电弱点检测。一、宽幅样品检测，无需分切试样该设备幅宽覆盖50~2200mm，可依据薄膜实际使用宽...
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