欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站

返回首页|联系我们

全国统一服务热线:

13911821020
技术文章您当前的位置:首页 > 技术文章 > CTI 与 PTI 标准化测试:HCLD-2 漏电起痕试验仪技术详解

CTI 与 PTI 标准化测试:HCLD-2 漏电起痕试验仪技术详解

日期:2026-06-15浏览:3次

华测仪器 HCLD-2 低压漏电起痕试验仪用于检测固体绝缘材料表面耐漏电蚀损性能,准确测定相比电痕化指数 (CTI)、耐电痕化指数 (PTI),为材料绝缘可靠性验证、产品安规认证提供准确试验依据。

设备配备低通滤波电流监测单元,滤除测试杂波干扰,稳定采集漏电电流信号,保障检测数据重复性;搭载过压、过流、门限多重防护功能,出现击穿、电压电流异常时切断回路,多角度守护设备与人员操作稳定。

配套自研 Huace Pro 智能测试软件,具备断电自动存档功能,试验数据、实时曲线与试样图像均可完整留存,重启后一键恢复测试记录;内置多套主流检测标准,可直接调用,同时支持自定义试验参数。

整机可调参数覆盖多元测试需求:试验电压 100V~1000V 可按需定制,滴液高度 30~40mm 连续调节,滴液间隔 1s~999s 可设置。设备支持两种试验终止逻辑,可设定50滴、100滴定量停机;若检测到漏电流≥0.5A 并持续 2s,将自动判定试样电痕击穿并结束试验,判定逻辑符合标准。

仪器普遍应用于电工电子元器件、半导体封装基材、改性工程塑料、家电绝缘零部件、新能源绝缘垫片等行业,满足研发性能测试、来料质检、第三方实验室认证检测等多种场景使用。

上一篇:没有了

下一篇:批量试样同步老化测试,准确把控 PCB、绝缘材料离子迁移失效风险

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

010-86460119

扫一扫,关注我们

京公网安备11011302007502号