表面电位衰减测试系统产品介绍

表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的多功能分析设备，是为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计，集高压极化、准确温控、快速信号采集及智能化分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可模拟不同温湿度环境下的材料电荷动态响应，为绝缘材料、功能薄膜、电子器件等领域的质量控制提供数据支持。

产品优势

高压极化与准确控制

支持±30 kV宽范围高压输出，负载调整率≤0.5%，稳定性≤0.1%/h，确保极化过程稳定可靠；

控温加热台（室温~160℃，±0.2℃），结合湿度可调电极箱体，满足复杂环境模拟需求。

高灵敏测量与快速响应

电位测量范围达±10 kV，精度1 V，采集频率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速响应，准确捕捉瞬态电位变化；

配备采集卡与中文分析软件，自动提取陷阱分布参数，一键生成衰减曲线及分析报告。

灵活电极配置与集成化设计

提供银/黄铜材质针、栅、板电极，电极间隙0~100 mm动态可调，适配不同样品形态与测试场景；

 集成化电极箱体整合加热台、支架及湿度模块，提升实验效率与重复性。

高稳定性与防护性

电压调整率≤0.1%，温度系数≤0.1%/℃，确保长时间测试数据一致性；输出电流局限≤1 mA，符合高压操作防护标准。

技术参数

充电电源：±30 kV

加热台温度范围：室温 ~ 160 ℃

控温精度：± 0.2 ℃

输入电压：AC 220 V ±10%，50 HZ

额定输出电压：0～+30kV

额定输出电流：≤ 1 mA

电压调整率：≤ 0.1%

温度系数：≤ 0.1 %/℃

测量范围：0 ~ ±10 kV

稳定性：时间漂移<100 ppm/小时（非累积）；温度漂移<200 ppm/℃

应用领域

绝缘材料研发

评估高压电缆、电容器薄膜等介电材料的耐压性能与电荷消散特性；

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性电子器件的表面电荷行为及陷阱效应；

半导体器件优化

表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，提升器件可靠性；

科研与教育

高校及实验室用于电介质物理、材料科学等领域的基础研究与教学实验；

电力设备质检

检测绝缘子、变压器套管等电力装备的绝缘老化状态及寿命预测。