欢迎访问北京华测试验仪器有限公司网站

返回首页|联系我们

全国统一服务热线:

13911821020
技术文章您当前的位置:首页 > 技术文章 > 高、低温环境下的介电温谱及频谱测量

高、低温环境下的介电温谱及频谱测量

日期:2021-07-26浏览:516次

  高、低温环境下的介电温谱及频谱测量
 
  高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线,是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线,高温介电测量系统是功能材料测试必bei电学性能评估设备。系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行频率、温度、时间、测试项等设置,符合材料测试多样化测试的需求。
 
  本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学性能测试,系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具,测试软件于一体,可测试材料的介电常数,介质损耗,阻抗谱Co-Co图,机电耦合系数等,同时可分析被测样品随温度,频率,时间变化的曲线,测试治具可以根据产品及测试项目要求选购;,实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计,通过测量C和D值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样。
 

上一篇:使用绝缘诊断测试仪的时候这些问题可要注意了

下一篇:您知道常温下的介电常数及损耗测量仪各模块功能吗?

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

010-86460119

扫一扫,关注我们