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2021-01-29
铁电存储器的基本存储单元一般有两结构，分别为1T1C（Onetransistoronecapacitance）结构和2T2C（Twotransistortwocapacitance）结构，如图2-3所示。前者使用一个晶体管及一个铁电电容组成一个存储单元，而后者则各为两个。1T1C结构的优点是能够大的节省存储单元所占芯片面积，但是该结构会导致阵列中位线（BitLine）的电压差变低，读出时对灵敏放大器的要求会更高；2T2C结构虽然会使用更大的面积，但是由于每个存储单元都含有两个...2021-01-26
早在20世纪40年代就提出,因为晶体各向异性能和相邻自旋磁矩的耦合作用,磁性材料中可能存在不同的磁畴结构。当晶体各向异性能量占主导地位时,平凡的磁畴壁(图1(a))会形成全通量闭合结构(图1(b)),而当相邻磁矩之间的耦合作用超过各向异性能时,可能出现涡旋或反涡旋状结构,如图1(c)和图1(d)。Mermin将这类特殊畴结构定义为拓扑缺陷,即序参数停止连续变化且具有低维奇异性的区域。一般来讲,铁磁畴壁可归类为二维平凡的拓扑缺陷,而更为复杂的通量闭合型、涡旋、反涡旋、中心畴、磁...2021-01-26
动态热机械法是在程序控制温度下，测量物质在振动负荷下的动态模量和阻尼与温度关系的一种技术。DMA可用于测量材料变形时所存储和消耗的机械能。例如如果一个材料收到变形并且接着解除变形，那么一部分贮存的变形能要回复，这是材料的基本特性，即材料产生阻尼振动。对于理想的弹性体，振动的能量是与变形时加入的能量相等的。而大多数材料并不显示出理想的弹性特性，所显示出的是一种黏弹特性。其一部分变形能是以其他形式能量（如热能）消耗的，这种能量消耗的趋向越大，由变形引起的振动阻尼也越大。在DMA测...2021-01-26
高温四探针测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。测试应用范围高温四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合...