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2021-04-25

1.介电性能(dielectricity)概念如果将某一均匀的电介质作为电容器的介质而置于其两极之间,则由于电介质的极化,将使电容器的电容量比真空为介质时的电容量增加若干倍。物体的这一性质称为介电性。2.介电性能的指标(1)介电常数(dielectricconstant)又称电容率或相对电容率,表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用e表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值,表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。介电常数愈小绝缘性愈好。3.介...

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2021-04-23

电荷在导体中运动时,会受到分子和原子等其他粒子的碰撞与摩擦,碰撞和摩擦的结果形成了导体对电流的阻碍,这种阻碍作用明显的特征是导体消耗电能而发热(或发光)。物体对电流的这种阻碍作用,称为该物体的电阻。电阻器(Resistor)在日常生活中一般直接称为电阻。是一个限流元件,将电阻接在电路中后,电阻器的阻值是固定的一般是两个引脚,它可限制通过它所连支路的电流大小。阻值不能改变的称为固定电阻器。阻值可变的称为电位器或可变电阻器。理想的电阻器是线性的,即通过电阻器的瞬时电流与外加瞬时电...

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2021-04-22

高温介电温谱仪可以实现高温、宽频条件下测量固体样品的介电性能,可以通过软件实现介电常数和介电损耗、阻抗和相位角等参数随多个温度、多个频率变化的曲线。触摸屏控制和显示,操作直观、使用方便,无需外接电脑,只需简单连接介电温谱仪和阻抗分析仪,开机校准后即可开始测量。高温介电温谱仪能满足科研需求,实现常温、高温、真空、气氛条件测量材料的介电性能;可提供块体夹具、薄膜夹具、单样品夹具、四样品夹具,以满足不同样品的测试需求;直接测量样品的介电常数和介电损耗、机电耦合系数,满足科研需求。高...

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2021-04-22

四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个大的优点,它不需要较准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。与四探针法相比,传统的二探针法更方便些,因为它只需要操作两个探针,但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一,电阻两端有两个探针接触,每个接触点既测量电阻两端的电流值,也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值,总电阻值:RT=V/I=2RW+2RC+RDUT;其中RW是导线电阻,RC是接触电阻,RDUT所要测量的电阻器的电阻,显然用...

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2021-04-21

耐高温绝缘材料在汽车零部件、半导体工业、航天工业、石化行业、机械工业、医疗行业、电子电器等等领域得到广泛的应用,主要还是因为它具有以下耐性:1、耐高温性能:玻璃化温度高达143C,熔点为343C,经GF或CF填充后,热变形温度高达315C以上,长期使用温度为260C。2、耐水解性:在高温蒸汽和热水中长期浸泡仍能够保持良好的机械性能,是树脂中抗水解性能较好的品种。3、耐化学药品性:除了高浓度浓硫酸等强氧化性酸的侵蚀,耐高温绝缘材料具有近似于PTFE树脂的耐化学品性,而且在各种化...

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2021-04-21

热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的,研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较测量出某些物质(如电介质、绝缘材料、半导体、驻极体等)的微观参数,热刺激法是一面对材料升温一面进行测量,即非等温测量。由于材料(例如介电材料)中的荷电粒子的微观参数(如活化能H、松弛时间等)不同,用热刺激法就很容易将材料中的各种不同H或松弛时间的荷电粒子分离开来,从而求出各自的参数。因为热刺激电流与材料的这些参数(如H与松弛时间)密切相关,故它是一种研究介电材料、绝缘材料、半导体材料等...

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2021-04-20

高温四探针综合测试系统(包含薄膜,块体功能)是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能,该系统可以*实现在高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率和外延层、扩散层和离子层的方块电阻及测量其他方块电阻。高温四探针综合测试系统符合的标准:1、符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》2、符合GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》最后我们来了解一下高温四探针综合测试系统的应用:1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材...

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