多通道电容器温变特性测试系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-08-07

产品简介：

华测仪器HCCT-40H多通道电容器温变特性测试系统

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HCCT-40H多通道电容器温变特性测试系统由华测仪器生产，是将环境试验箱与评估系统相结合，效率采集数据的自动化多通道系统。仪器自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。

性能指标需求

测量性能

电容测量范围：1pF ~ 1μF

测量准度：±0.3%

测试频率：固定 1kHz

测试电平：0.1V~0.3V 

测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性

设备稳定性

连续工作稳定性：重复测量同一标准电容，测量误差≤±0.2%；对同一被测物连续测试 100 次，数据重复误差≤±0.3%

环境适应性：环境温度 20±5℃、相对湿度 40%~60%

接口与适配性

测试线接口：按被测物型号定制，适配线阵、凸阵、相控阵等常见接口，接触可靠，插拔顺畅

测试板接口：预留通用对接接口，支持64/80/128通道测试线切换

通信接口：兼容 Windows10 及以上操作系统