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产品型号:HCCT-40H
厂商性质:生产厂家
所在地:北京市
更新日期:2026-08-06
产品简介:
| 品牌 | 华测 |
|---|
华测仪器HCCT-40H MLCC电容器温度特性测试平台
价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师
HCCT-40H MLCC电容器温度特性测试平台由华测仪器生产,系统可根据被测物型号、通道数定制对应测试线,通过软件校准减小线缆带来的测量误差,完成全部阵元电容准确测量。测试时系统可自动识别开路、短路类异常阵元,将测试结果存入对应被测物型号的文件夹。本系统兼顾操作便捷性与数据可追溯性,可满足研发验证、产线检测、故障排查等不同测试场景需求。
产品参数
电容测量范围:1pF~1μF
测量准度:±0.3%
测试频率:固定1kHz
测试电平:0.1V~0.3V
测量模式:Cp并联电容模式,适配电容测量特性
产品功能
多型号/通道数适配功能
针对不同型号、不同通道数被测物(主流 64/80/128 通道,可扩展至 256 通道),支持不同型号测试线切换,切换流程简单便捷。
校准功能
软件内置电缆线校准功能,减小测试线自身寄生电容与引线误差,保障测量准度;支持开短路校准,支持标准电容校准(可选)。
批量测试功能
支持被测物全部阵元批量检测,单款被测物全自动扫描时长不超过 1 分钟,测试过程自动化。

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