电介质温频特性综合测试系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

产品简介：

华测仪器HCCT-40H电介质温频特性综合测试系统

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HCCT-40H电介质温频特性综合测试系统由华测仪器生产，是将环境试验箱与评估系统相结合，效率采集数据的自动化多通道系统。仪器自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等多种类型的电容器。

产品优势

至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道；

图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查；

可选不同测试模式

温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，频率步数201步（可定制）；

持续运行测试：测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据；

频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据；

多种可选夹具

除了SMD组件的专用夹具外，还提供了根据离散设备形状定制的夹具；