多通道电容器高低温特性测试系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-28

产品简介：

华测仪器HCCT-40H多通道电容器高低温特性测试系统

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HCCT-40H多通道电容器高低温特性测试系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。

产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选8个通道的倍数，至多64个通道。

2、可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相合。

产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

测量方法：交流四端对测量

测量范围：测量频率20Hz~1MHz

电容量(C)：50pF~5mF

损失因子(D)：0.00001~9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999MΩ

直流偏压：0~±40V

测量仪器：LCR表