陶瓷 / 薄膜电容温度特性测试系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

产品简介：

华测仪器HCCT-40H陶瓷 / 薄膜电容温度特性测试系统

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HCCT-40H陶瓷 / 薄膜电容温度特性测试系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等多种类型的电容器。

产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道。

2、图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

3、可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相结合。

产品参数

通道配置：8通道（标准）；至多64通道

测量方法：交流四端对

直流偏压：0~±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成

频率步长：201步（范围可定制）

补偿：短时补偿，开放补偿