电容器温度‑频率特性测试系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-08-07

产品简介：

华测仪器HCCT-40H电容器温度‑频率特性测试系统

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HCCT-40H电容器温度‑频率特性测试系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等多种类型的电容器。

功能需求

多型号/通道数适配功能

针对不同型号、不同通道数被测物（主流 64/80/128 通道，可扩展至 256 通道），可定制专属电容测试线；测试线接口与被测物匹配，可和测试板插拔对接，规避接触不佳问题

校准功能

软件内置电缆线校准功能：更换测试线后或每次启动测试前，均需通过软件执行线缆校准，减小测试线自身寄生电容与引线误差，保障测量准度

批量测试功能

支持被测物全部阵元批量检测，单款被测物全自动扫描时长不超过 1 分钟，设备逐通道自动巡检，无需人工切换阵元

操作便捷性需求

硬件操作：测试线与被测物、测试板的连接采用插拔设计，无需工具，普通操作人员可完成对接；测试板接口配备防呆结构，可防止测试线错插