MLCC温度特性评估系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-26

产品简介：

HCCT-40H MLCC温度特性评估系统

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HCCT-40H MLCC温度特性评估系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。

产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道。

2、图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

测试方法：温度特性评价试验（相对于温度的变化）

                  恒定运行检测（相对于检测时间的变化）

频率特性评价试验 （相对于频率的变化）

测量方法：交流四端对测量

直流偏压：0 ~ ±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成