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基础信息Product information
产品名称:

离子迁移(CAF)测试系统

产品型号:Huace

厂商性质:生产厂家

所在地:北京市

更新日期:2026-03-12

产品简介:

华测仪器离子迁移(CAF)测试系统离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。

产品特性Product characteristics
品牌华测

华测仪器离子迁移(CAF)测试系统

价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师


离子迁移(CAF)测试系统由华测仪器生产,是用于捕捉高温、高湿、电场等复杂环境下,材料及元器件因离子迁移引发的绝缘电阻劣化过程,准确判断失效风险,为产品研发、质控及失效分析等提供科学数据支撑,普遍适配电子、汽车、新能源等多行业高可靠性产品的测试需求。


技术参数

测量电压:100 ~ 1500V(可定制)

测试通道:128通道(可定制至高960通道)

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃(可定制)

测试湿度:85%(可定制)

测量范围:1×105 ~ 1×1015Ω

极化电压:100 ~ 1500V(可定制)

扫描周期:至快2分钟(128通道)


 产品优势

安全与稳定性强:具备紧急停止、过温切断加热断路器等保护功能,配备防反水加湿水路系统与二级加湿用水过滤保护,既保障操作安全,又延长设备使用寿命;部分型号可选购观察窗隐私功能,保护试件隐私。

可定制适配性:支持测试参数、通道数量、环境模拟条件等按需定制,可适配标准样材、异形件(夹取方式)测试,兼容行业标准,满足不同行业、不同产品的个性化测试需求。


离子迁移(CAF)测试系统


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