半导体塞贝克系数电阻测试仪

产品型号：HC-RD-1100

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-10

产品简介：

HC-RD-1100半导体塞贝克系数电阻测试仪

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HC-RD-1100半导体塞贝克系数电阻测试仪由华测仪器生产，是一款简单易用的材料表征仪器，可以同时测定样品在RT至1200℃温度范围内的塞贝克系数和电阻率。

产品优势

1. 灵活兼容性与操作便捷性

支持圆柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面宽）及圆盘状（10~25.4mm）多种样品尺寸，适配复杂形状试样；

可调探头距离（4/6/8mm）与三明治夹持结构，保障样品接触稳定性，减少测量误差；

电极材料可选镍（-100～500℃）或铂（-100～1500℃），灵活应对不同温区与材料特性。

2. 高稳定性与长周期测试能力

电源输出 0～1A，具备长期稳定性，支持连续高温实验与长时间数据采集；

配备K/S/C型热电偶，实现准确温度监控与闭环控制。

产品参数

01.温度范围:RT~800/1100/1200℃

02.测量原理：塞贝克系数:静态直流法;电阻率:四端法

03.气氛:惰性、氧化、还原、真空

04.可调探头距离:4、6、8mm

05.塞贝克系数测量范围:1~ 2500uV/K准确度±7%;重复性±3%

06.电导率测量范围:0.01~2*10⁵s/cm准确度±5-8%;再现性±3%