多层陶瓷电容器温度特性评估系统

产品型号：HCCT-40H

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-27

产品简介：

华测仪器HCCT-40H多层陶瓷电容器温度特性评估系统

价格仅供参考，如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例，欢迎致电我司技术工程师

HCCT-40H多层陶瓷电容器温度特性评估系统由华测仪器生产，系统通过准确控制温度环境，并测量电容器在不同温度下的关键参数（如电容量（C）、损耗因子（D）和阻抗（Z）等参数值），从而评估其温度特性。该系统稳定可靠，适用于包括多层陶瓷电容器（MLCC）、陶瓷电容、薄膜电容等各种类型的电容器。

一、产品优势

1、至多64个通道的自动测量

可以测量不同温度环境下的电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)，可选择8个通道的倍数，至多64个通道

2、图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查

3、可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验；测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相合

温度特性评估测试：在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，频率步数201步（范围可定制）

持续运行测试：测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据

频率特性评价试验：试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据

4、多种可选夹具 适用于不同的试验样本（可选）

除了SMD组件的专用夹具外，还提供了根据离散设备形状定制的夹具

二、产品参数

测量项目：电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) 和电感 (Ls，Lp)

测试方法：温度特性评价试验（相对于温度的变化）

恒定运行检测（相对于检测时间的变化）

频率特性评价试验 （相对于频率的变化）

通道配置：8通道（标准）；至多64通道可扩展8通道增量

测量方法：交流四端对测量

测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz

电容量(C)：50 pF ~ 5 mF

损失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

测量仪器：LCR表（可按需选择型号）

直流偏压：0 ~ ±40V

温度测量间隔：1 ℃

扫描周期：64通道可在1min之内完成

频率步长：201步（范围可定制）

补偿：短时补偿，开放补偿