多通道多物理场长期老化试验系统

产品型号：Huace-LHD系列

厂商性质：生产厂家

所在地：北京市

更新日期：2026-06-26

产品简介：

Huace-LHD系列多通道多物理场长期老化试验系统

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Huace-LHD系列多通道多物理场长期老化试验系统由华测仪器生产，能够模拟多种工业制品、零部件以及原材料的实际生产、使用、储存和运输过程中的高压伴随着低温、高温、潮湿、干燥、高低温湿热交变、加速温度变化、温度循环等环境因素的影响，以测试其功能、性能及寿命的完整性和可靠性，可进行连续试验，高能简便地评估因老化腐蚀现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

产品参数

Huace-LHD-4

通道数：4ch（至大25ch）

保护功能：过压、过流、短路、过温保护

散热方式：采用PWM调速风机、风冷

测试时间：60天

被测物：标准样材、异形件（夹取方式）

输出电源类型：直流

电源输出范围：电压：0~1kV

电流：0 ~ 1A

电源调解率：电压：0.1%F.S

设定准度：电压：0.1%F.S

Huace-LHD-8

通道数：8ch（至大40ch）

输出电源类型：直流/交流

劣化分析（LHD8）：电流采集：1pA ~ 20mA

测量精度：1％

测试时间：10s/1ch(可设置)

电源输出范围：电压：5kV ~ 20kV