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基础信息Product information
产品名称:

半导体材料高低温电阻率测试系统

产品型号:SIR-450

厂商性质:生产厂家

所在地:北京市

更新日期:2026-03-06

产品简介:

华测仪器SIR-450半导体材料高低温电阻率测试系统应用在电子产品中,电容器、电阻器、半导体器件等需要在不同温度下进行试验,以评估其性能和可靠性。

产品特性Product characteristics
品牌华测

SIR-450半导体材料高低温电阻率测试系统

价格仅供参考,如需获取更详尽的产品技术规格书、定制方案或应用案例,欢迎致电我司技术工程师


SIR-450半导体材料高低温电阻率测试系统由华测仪器生产,用于预测EMC的HTRB性能,环氧塑封料(EMC, Epoxy Molding Compound)是用于半导体封装的一种热固性化学材料,具有保护芯片不受外界环境的影响,抵抗外部溶剂、湿气、冲击,保证芯片与外界环境电绝缘等功能,环氧塑封料对高功率半导体器件的高温反向偏压(HTRB)性能有重要控制作用。



产品参数

温度范围:-100~350°C

控温精度:0.5°C

升温斜率:10℃/min(可设定)

电阻:1×1016Ω

电阻率:1×103Ω~1×1016Ω

输入电压:220V

样品尺寸:φ<25mm,d<4mm

电极材料:黄铜或银

夹具辅助材料:99氧化铝陶瓷

绝缘材料:99氧化铝陶瓷

测试功能:高低温电阻率

数据传输:RS-232


产品优势

除去电网谐波对采集精度的影响

除去不规则输入的自动平均值功能

采用测量前等待的方式,让材料受热更均匀


多种加温方式

匀速度加热试验

阶梯式加热试验

热循环试验(仅供反射炉)

降温试验

加速度升温(仅供反射炉)


半导体材料高低温电阻率测试系统


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